Другие журналы
|
Савельева Екатерина Олеговна
К вопросу о перспективности использования метода функций Грина для моделирования вольт-амперной характеристики резонансно-туннельного диода
Молодежный научно-технический вестник # 12, декабрь 2015 УДК: 621.382(075.8) В статье рассмотрены проблемы прогнозирования надежности устройств наногетероструктурной электроники в рамках моделирования электрических характеристик полупроводниковых гетероструктур. Проанализированы основные подходы к моделированию вольт-амперной характеристики гетероструктуры и резонансно-туннельного диода. Рассмотрен подход, в основе которого лежит метод матриц переноса. Проанализирована целесообразность применения подхода на основе метода функций Грина.
|
|
||||||||||||||||||||||||||||||||
|