Булатова Ксения Александровна

В статье отражены некоторые аспекты изучения топографии поверхности самоорганизованной структуры синтетического опала при помощи атомно-силового микроскопа(АСМ). Приведен разбор значений показателей шероховатости поверхности, полученных при помощи стандартного программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа. При этом учитывается разница измерения привычных параметров шероховатости, таких как Ra, Rz и параметров шероховатости в нанометровом диапазоне, таких как Sq, Sku.