Токарев Денис Андреевич

C помощью Раман спектроскопии и наноиндентирования были изучены, соответственно химическая структура и механические свойства, многослойных покрытий на микроразмерном режущем инструменте (твердый сплав WC-Co),которые формировались последовательным нанесением наноразмерных слоев титана и алмазоподобного углерода дуговым и импульсно-дуговым методом соответственно.

Проведен анализ влияния технологических погрешностей изготовления резонансно-туннельной структуры (РТС) на форму вольт-амперной характеристики (ВАХ) резонансно-туннельного диода (РТД) и характеристики балансного смесителя СВЧ сигналов на его основе.