Тихомиров Д В

Множество методов было разработано для учета достижений технологического прогресса, и одним из них  является анализ патентной информации. Методы визуализации считаются эффективными для представления массивов патентной информации и результатов ее анализа. Однако, предлагаемые настоящее время методы визуализации для патентного анализа, патентные карты, имеют некоторые недостатки. Поэтому в данной статье предлагается альтернативный метод визуализации. При кластеризации результатов, формируют семантическую сеть ключевых слов с учетом даты внесения. А потом формируют патентую карту путем перестановки каждого ключевого слова семантической сети в соответствии с его ранней датой внесения и частотой его обнаружения в патентных документах. Предложенный в статье подход позволяет создавать карту патентов, которая содержит, одновременно, структурированную и не структурированную информацию из патентного документа при помощи алгоритма интеллектуального поиска по базе данных патентной информации, который позволяет осуществлять поиск минимум по шести параметрам, вносимых в патентные документы, с дальнейшим отображением при помощи веб-интерфейса. Тем самым создается возможность визуализации четкого представления о патентной информации в наиболее доступной форме, что  позволяет пользователям сформировать представление о существующих запатентованных достижениях в области микро и нано технологий и прогнозировать их тенденции в будущем.

В статье описываются алгоритмы трансформации топологии субмикронных СБИС, ориентированные на применение для некоторых классов сложно-функциональных блоков, проектируемых для последующего производства по технологии двойного фотошаблона и удовлетворяющих условиям воспроизведения заданной топологии по технологии двойного фотошаблона.