Храповицкая Юлия Владимировна

В настоящее время многие научные коллективы в области микроэлектроники ведут разработки технологии создания мемристора, а также возможности его интеграции в существующую КМОП-технологию. В результате исследований были установлены основные классы материалов с эффектом памяти такие как: оксиды металлов, твердые электролиты, халькогениды, полимеры и пр. Все эти классы материалов обладают свойством переключения сопротивления, но механизмы, за счет которых это переключение достигается, различаются. В литературе представлены элементы разной степени исследования, однако для ряда материалов удалось добиться стабильного мемристивного эффекта, получить на их основе устойчивый к переключению элемент и разработать для него модель функционирования. В данной статье представлен обзор таких структур с эффектом памяти на основе неорганических материалов, проведен анализ их характеристик и возможных вариантов их применения.

В работе было выполнено численное моделирование рабочей частоты и потребляемой мощности мемристоров, изготовленных на основе оксида титана. Для исследования использовалась модель мемристора в виде двух последовательных резисторов, сопротивление которых зависит от положения границы раздела между слоями мемристора с избытком/недостатком кислорода. Впервые помимо исследования частотных характеристик мемристора был проведен анализ зависимости мощностных характеристик мемристора от его структурных параметров. Показано, что значительное увеличение рабочей частоты мемристора происходит при уменьшении толщины активного слоя и общей толщины мемристора, что сопровождается увеличением потребляемой мощности мемристора. На основе полученных данных определены оптимальные значения толщины активного слоя и общей толщины мемристора.

Представлены результаты структурных исследований углеродного волокна и микроуглепластика на основе эпоксидного связующего. На основании полученных результатов сделана попытка определить механизм разрушения углепластика в процессе его длительной эксплуатации.

В работе проведено исследование физико-химических характеристик полимерных конструкционных материалов (ПКМ) с введенными наномодификаторами – астраленами методом спектроскопии комбинационного рассеяния (КРС). Проведено исследование химических связей полимерной матрицы с наномодификаторами и параметров плотности упаковки макромолекул. Также сделан вывод о применимости метода КРС для оценки степени деформации ПКМ в процессе эксплуатации под воздействием механических нагрузок.