Батшев Владислав Игоревич

Дан обзор методов контроля качества выпуклых асферических зеркал большого диаметра, основанных на принципиально новой схеме освещения контролируемого зеркала пучком параллельных лучей, идущих перпендикулярно оси симметрии зеркала. Благодаря такому освещению для реализации рассмотренных методов не требуется применение вспомогательных крупногабаритных оптических элементов, поэтому методы являются перспективными для контроля формы зеркал диаметром более метра. На базе рассмотренной схемы освещения разработан новый метод контроля качества выпуклых зеркал с экстремально высокой апертурой – с углом наклона крайней нормали 45 ° и более.

Одной из основных проблем создания крупных оптических телескопов является контроль качества выпуклых зеркал, т.к. для его проведения необходимо использовать вспомогательные оптические детали, диаметры которых превосходят диаметр контролируемого выпуклого зеркала. Одно из решений этой проблемы заключается в применении схемы ортогональных лучей, согласно которой освещение контролируемого зеркала производится пучком параллельных лучей, ориентированных перпендикулярно оси симметрии зеркала. Структура отраженного пучка несет в себе информацию о форме контролируемого зеркала. Для анализа отраженного пучка разработан неинтерфернционный датчик волнового фронта. Представлена методика определения  уравнения профиля контролируемой поверхности.